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顆粒的物理性質(zhì)測試對于很多行業(yè)都具有重要意義，顆粒的粒徑分布與球形度、長徑比等外形分布數(shù)據(jù)都是經(jīng)常需要用到的物理參數(shù)。圖像粒度儀工業(yè)級雙向遠心鏡頭以及強大的分析軟件，可快速對待測顆粒進行粒形分析，廣泛應用于質(zhì)量控制、研發(fā)部門以及實驗室，可替換篩分分析。圖像粒度儀系統(tǒng)包括光學顯微鏡、數(shù)字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機等部分組成。它是將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物。它的基本工作流程是通過數(shù)字攝像機將顯微鏡的圖像拍攝下來并傳輸?shù)诫娔X中，通過專門的...

超聲粒度儀是基于超聲法原理的儀器，主要應用于在原濃分散體系中表征粒徑分布，利用超聲波在含有顆粒的連續(xù)相中傳播時，聲與顆粒的相互作用產(chǎn)生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應來測量顆粒粒度及濃度。無需進行樣品稀釋或前處理即可直接測量。應用領域：主要應用于原濃分散體系中表征粒徑分布、Zeta電位、流變學參數(shù)、固體含量、CMP漿料，乳液、陶瓷漿料、電池漿料、水泥、藥物乳劑等。特點：1、測量準確性高。礦漿中超聲衰減的改變是固體顆粒共同作用的成果，可以對超聲衰減選用直接測量方法，而非查表...

粒形分析儀采用積木式的設計，在需要的時候用戶可以隨時配備其它更先進的部件，使它的性能就立刻提升。比如可以配備用于形態(tài)分析的視頻攝像系統(tǒng)、配備濕法分散系統(tǒng)、干法分散系統(tǒng)和粒度分析專家軟件等。粒形分析儀結(jié)合了粒度儀和顆粒形貌分析儀的核心作用之外，可選擇進行干、濕法測定，甚至能夠區(qū)分混合物比例等等。具有成像清晰、分析速度快、操作簡單、結(jié)果準確可靠等特點。是人造金剛石、碳化硅磨料、等領域的技術(shù)研究、應用研究和質(zhì)量控制提供里一種高精度的分析手段。分析項目包括粒度和粒形兩大類，粒度分析項...

圖像粒度儀一般是由激光器、富氏透鏡、光電接收器陣列、信號轉(zhuǎn)換與傳輸系統(tǒng)、樣品分散系統(tǒng)、數(shù)據(jù)處理系等組成。根據(jù)激光散射原理,顆粒大小不同,散射光能量隨射角度的分布也不同,此種分布稱為散射譜。激光粒度就是通過檢測顆粒群的散射譜反演顆粒大小及其分布的。激光器發(fā)出的激光束,經(jīng)濾波、擴束、準直后變質(zhì)束平行光,在該平行光束沒有照射到顆粒的情況下,光束經(jīng)過富氏透鏡后將其匯聚到焦點上。當通過某種特定的方式把顆粒均勻地放置到平行光束路徑中時,激光束經(jīng)過顆粒時將發(fā)生衍射或散射現(xiàn)象,一部分光將與光...

固體表面電位是指由于帶電微粒吸引分散系中帶相反電荷的粒子，離顆粒表面近的離子被強烈束縛著，而那些距離較遠的離子形成一個松散的電子云的內(nèi)外電位差。又叫電動電位或電動電勢，是指剪切面的電位。是一個表征分散體系穩(wěn)定性的重要指標。由于分散粒子表面帶有電荷而吸引周圍的反號離子，這些反號離子在兩相界面呈擴散狀態(tài)分布而形成擴散雙電層。根據(jù)雙電層理論可將雙電層分為兩部分。當分散粒子在外電場的作用下，穩(wěn)定層與擴散層發(fā)生相對移動時的滑動面即是剪切面，該處對遠離界面的流體中的某點的電位稱為固體表面...

超聲粒度儀是一種連續(xù)礦漿流在線粒度檢測儀器，是磨礦工藝流程控制中*的在線粒度測量儀器。具有測量多個粒級和濃度的能力。超聲粒度儀原理：超聲波發(fā)生端發(fā)出一定頻率和強度的超聲波，經(jīng)過測試區(qū)域，到達信號接收端。當顆粒通過測試區(qū)域時，由于不同大小的顆粒對聲波的吸收程度不同，在接收端上得到的聲波的衰減程度也就不一樣，根據(jù)顆粒大小同超聲波強度衰減之間的關(guān)系，得到顆粒的粒度分布，同時還可測得體系的固含量。產(chǎn)品特點：1、測量準確性高：礦漿中超聲衰減的變化是固體顆粒共同作用的結(jié)果，本儀表對超聲衰...

混凝土拌合物流變性能主要體現(xiàn)為混凝土的和易性，它是混凝土混合物在拌合、輸送、澆筑、搗實、抹平一系列操作過程中，在消耗一定能量情況下，能使混凝土達到穩(wěn)定和密實的一種性能，混凝土和易性（或工作性）直接決定了混凝土施工的難易程度及其硬化后的力學性能、耐久性的好壞。長久以來，混凝土拌合物的泵送流動阻力，即易泵性，只能在真實泵送條件下檢驗，試驗規(guī)模大、成本高。新的研究表明，混凝土拌合物在管道中流動以“摩擦流”（活塞式）滑移為主，高泵送流量或高流動性拌合物會同時產(chǎn)生“粘滯流”，泵送流動阻...

隨著粉體技術(shù)的發(fā)展，對粒度分析儀的性能要求在逐步的提高，特別是粒度儀的量程要求越來越寬。測量下限要求達到幾百甚至幾十個納米，測量上限要求達到一千甚至幾千微米。顆粒越細，散射光的角度越小，微小顆粒的散射光甚至在360度范圍內(nèi)都有分布。為了拓展儀器的測量下限。需要有非常規(guī)的光學設計。顆粒越小，分布在360度空間范圍的散射光光強差越小，當顆粒小到一定極限，光強差將小得幾乎難以被分辨出來。這時就到了激光粒度儀的測量下限了。光學設計上的障礙和散射光本身的特性決定了常規(guī)激光粒度儀的測量下...